数据显示：福禄克光纤测试仪光纤测试

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我们通常用衰减量来判断光纤安装的质量，多数时候还要求同时测试光纤的长度，看看是否超过了某种应用的长度限制。另一种情况是，在传输丢包率达不到要求的情况下，还要求测试和评估光纤链路中的连接点、熔接点的质量。以便在高速光纤链路中帮助区分是设备(或者设备上的光模块的)问题，还是光纤链路本身的问题。不仅在数据方面表现良好，[url=http:///www.gcfww.com/]弱电工程[/url]在市场份额上也是逐步拓进，让更多的人受益。[align=center]

                               
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上述两类测试分别对应地被称作一级测试和二级测试。一级测试(T1)的测试参数就是衰减量和长度；二级测试(T2)是在一级测试的基础上再增加OTDR曲线测试，主要目的就是显示光纤链路的结构和其中的各种引起质量问题的质量事件。
先来看看什么叫一级测试。
衰减测试最基本原理见图一：在光纤的一端是光源，另一端则接一个光功率计。光的功率单位是B。则（P-P)就是被测光纤链路的衰减值。

际测试的时候需要做一点调整，才能保证测试的可操作性，否则，会遇到许多工程问题而法施测试。首先，际测试时一般都会使用测试跳线，测试结果就应该把这些测试跳线所引入的衰减扣除掉。图二为际测试时的一个例子：先将光源和光功率计开机，预热5分钟，待光源稳定后将两根测试跳线用光纤耦合器短接，测出P0值。

然后打开耦合器，加入被测光纤，测出P，则这根光纤链路的衰减量＝(P0-P)。
为什么要一定要用测试跳线呢这是因为按照图一的测试模式可以得到P，技术上却难得到P0。使用测试跳线的另一个重要原因就是，光源和光功率计的测试插座在经过一定次数的插拔后磨损程度会增加，精度和稳定性会迅速下降严格地讲，每次插拔后的P0值都是有偏差的。另外，使用一定次数以后，需要更换费用较高的光源和光功率计的插座。而采用测试跳线的好处是：测试跳线的一端与光源或光功率计相连，另一端与被测光纤链路相连，在一整天或半天的测试工作中一般测试跳线不会从仪器上拔下来，这样被磨损的就只是测试跳线的一端。测试插头被磨损到一定程度后，就可以更换测试跳线，更换测试跳线的费用比更换仪器插座的费用要低得多(100:1以上价格差距)。
建议：标记测试跳线插入仪器的那一端，每次都使用此端，可减少漂移，保证精度。
上面的测试方法有一点小小的不便结测试完毕需要做一次减法运算(P0-P)，才能得出被测光纤的际衰减值。在光源稳定后，不拔出光源上连接的测试跳线，这样可认为P0是恒定不变的，我们把此时的P0设为相对零(即在光功率计上按下参考键)，即强行认为P0=参考零功率，这样就不必去做P0-P的运算了这个在测试前进行的预备操作，也经常被称作归零、设参考零或设置基准值。这样，在接入被测光纤后，光功率计上测得的值就是光纤的衰减值(P0-P)，须再做减法运算。衰减值的单位通常用B(分贝)来表示，这个值可直接存入光功率计的测试报告中。采用预先设参考零值的测试方法，很适合进行大批量的光纤测试工作。
因此，测试光纤的衰减量时一般都有一个测试前的归零程序，即按图二的方法连接仪器先设置参考零(按下参考或归零键)。然后才按图的模式进行际测试。
典型的被测光纤链路其衰减值由部分构成，即：被测光纤本身的衰减值加上两端连接器各自的衰减值。但细心的读者仔细观察图后会发现一个问题：在图二中设置参考零时，已将2根测试跳线的光纤衰减值、1个耦合器的耦合衰减和2个仪器插座的接入衰减共五部分包含在了参考零当中。所以，图的测试结果只包含了被测光纤本身的衰减值及其一端连接器的耦合衰减这两部分的衰减，另一端连接器的耦合衰减则没有包括在被测光纤链路中因为此连接器的衰减已在设置参考零时被归零了。也就是说，测出的衰减结果是被测光纤及其一端连接器的衰减值，而非期望的被测光纤及其两端连接器的衰减。多数情况下我们考察的都是被测光纤及其两端连接器的衰减值，那么图这种测试方法就是不准确的。请参见图四和图五的注释。

在光纤长度很长时，整个链路衰减值中光纤的衰减值占的比例大，连接器的衰减相对比较小(可忽略)，故此时可以近似地认为测得的衰减值就是光纤加上两端连接器的衰减值。深圳连讯工程师特别提示在光纤较短时，整个链路衰减值中两端连接器的衰减值占了相当大的比例，这种测试就是不正确的。这也是造成短链路测试经常不合格的一个主要原因。

所以，为了比较准确地测试光纤链路的衰减，需再做一点调整和改进，请参见图六。
按图二方式设好参考零后，测试时加进一根短的测试补偿跳线(0米左右)，这样一来，测试结果就包含了四部分衰减值：被测光纤的衰减、被测光纤两端连接器的衰减、补偿光纤的衰减。补偿光纤是多出来的一短光纤，但由于补偿光纤很短，其衰减量完全可以忽略不计(0米的长度对应的衰减值一般都低于0002B，而仪器的精度一般在001B左右)。图六所示的测试模式通常被称作改进的B类测试模式(注：B模式是指归零时只用一根跳线，测试时在光功率计上再补上一根测试跳线)。
由于B模式或改进的B模式其测试结果都包含了被测试光纤两端的连接器衰减值(通常这两个连接器就是光纤配线架上的插座和用户面板上的插座)，(电工学习)测试误差也最小，所以工程上经常推荐使用这种测试模式。
如果只希望了解被测光纤的衰减值，而不包含光纤两端连接器的衰减，那么可以按图八方式进行测试，但在测试前须按图七所示的方法归零。此时的测试结果包含短归零跳线造成的误差(0米，可忽略)。这种测试模式叫做测试方法C。此法不适合大量测试，否则仪器插座磨损太厉害，测试成本太高。

如果需要进行大批量测试，则图八所示的方法需要做调整归零方法须先按图九所示进行，测试方法则按图十所示的方法进行。此法存在归零跳线(通常0米)引起的微小误差(可忽略之)。这种测试模式叫改进的测试方法C，目的是避免磨损仪器插座。

被测光纤越短，测试精度受耦合器精度波动的影响也越大。这是因为短链路中光纤本身的衰减值很小，耦合器的衰减值相对短光纤则比较大，因此耦合器衰减值出现波动时所占的误差比例就比较高。由于测试时每次插拔耦合器都有可能产生耦合器衰减值的微小波动，而这些微小波动相对于短光纤的衰减值来说不可忽略。因此，短光纤本身的衰减值一般不提倡用方法C进行测试。
际的被测链路通常如图十一和图十二所示。图十一的被测链路包含配线架的连接衰减和墙面板插座的连接衰减。工程验收时经常被测试的就是这种两路。图十二则包含用户跳线和设备跳线及其与光模块的连接衰减，这是故障诊断时经常被测试的链路模式。这两种方法都采用了方法B，这也是工程上能保证测试精度的最常推荐的测试方法(模式)。

对于际链路诊断故障时常用改进的方法C进行测试。被测链路不包含设备和用户跳线的归零衰减。也就是说，由于设备跳线一端的插头A或用户跳线一端的插头B的质量问题所引起的衰减，被计算在整个链路的衰减值当中。

方法B需要使用根测试跳线(两根测试跳线，一根补偿光纤)，不是很方便，也不适合某些测试对象和场合。考虑到归零后插拔光功率计上的测试跳线对测试结果影响不大，所以可以采用改进的方法B来进行测试，如图十、十四所示。

关于测试结果出现负损耗，原因简述如下。
在光源一端，出光口的光能量耦合效率对端口结构几何尺寸和测试跳线几何尺寸的偏差比较敏感，所以归零以后不允许插拔测试跳线，否则需要重新归零，以免增大测试误差，对短链路测试结果甚至会出现负损耗。而在光功率计一端，由于其受光器件面积远远大于光纤截面积，所以归零后插拔光功率计一端的测试跳线对测试结果影响不大，故测试跳线B的引入对测试结果的影响很小。当然，如果测试跳线本身B不合格(没有事先经过测试)，则测试结果也会超差甚至不合格。如果测试跳线A本身不合格(比如端面有灰尘、污渍、纤维)，则测试结果会不稳定甚至为负损耗(比如因端面灰尘、纤维脱落)。
在图四所示的方法B中，归零后靠近光源一侧的测试跳线不允许插拔；如果归零用的耦合器本身偏差较大(比如轴向对准偏差较大)，则归零后测试短链路也可能出现负损耗。如果开机后立刻就进行归零操作，由于光源和光功率计均为进入稳定工作状态，测试短链路时也可能出现负损耗。在温差较大的场合需注意开机5-10分钟后再开始归零操作。
测试跳线两端的结构尺寸不一致是常见现象，造成双向损耗值不一样，所以测试用跳线预检时也需要双向测试，双向误差一般要求不超过001B。否则测试短链路时也可能出现负损耗。
关于光纤直径和光源。
光源和光功率计一般会随仪器成套提供，当然也可以单独提供。比如，有时只用光功率计去测量光模块的输出功率或者光接收模块的输入功率，以此判断设备的光接收模块接收到的光信号强度是否复符合要求，或者判断光发送模块发送出的光信号强度是否复合要求。维护人员也可依此功率差值来大致判断光纤是否有问题，此时可不使用配套的测试光源。
被测试的光纤有两大类，一类是单模光纤，直径很细，只有8微米，其衰减值和色散值都比较小，适合长距离传输光信号。另一类是多模光纤，直径比较粗，常见的有625微米直径和50微米直径两种规格。其衰减值特别是色散值比较大，适于短距离传输光信号。
通常使用激光光源配合单模光纤来远距离传输光信号，使用LED光源和VCSEL光源配合多模光纤来传输短距离的光信号。
与此相对应，测试用的光源有激光光源和LED光源，有时也称作单模光源和多模光源(虽然是不准确的称谓，但却比较流行)，这两种光源一般情况下是不混用的。激光光源的光束汇聚性好(光束发散角很小)，光谱的能量集中，适合于测试长距离单模光纤链路。计算机络中选用的激光光源常见两个典型的工作波长110微米和1550微米(当然还有其它波长)；而LED光源的光束发散角大，能量分散，多用于测试短距离使用的多模光纤，经常使用的LED光源也有两个典型工作波长850微米和100微米(当然亦还有其它波长)。
VCSEL光源是一种准激光光源，光束发散角比激光光源大一些，适合在多模光纤中测试短距离高速光纤链路。由于VCSEL光源常用于千兆和万兆以太链路，所以测试用的VCSEL光源一般也用来对应测试这两种应用的光纤链路衰减值。
不同的光源测试的损耗结果是不一样的。欲获取精确的测试结果需要测试光源和际应用的光源一致。比如，测试1G10G光纤链路宜使用VCSEL光源(如福禄克GFM-2模块)。